顆粒表征分析儀是一種單顆粒檢測(cè)方法，每個(gè)穿孔的粒子在瞬間產(chǎn)生與粒子體積成比例的電流改變量，持續(xù)時(shí)間與粒子的速度成正比，從而與流體的流速成反比。通過(guò)微電流檢測(cè)系統(tǒng)記錄每個(gè)粒子的電脈沖信號(hào)，再經(jīng)過(guò)智能分析軟件計(jì)算，即可準(zhǔn)確地得到樣品顆粒濃度、粒徑、zeta電位、形態(tài)等分析結(jié)果。
顆粒表征分析儀操作與保養(yǎng)：
①完全自主開(kāi)發(fā)：NanocoulterI一整套測(cè)試體系，完全獨(dú)立自主研發(fā)，擁有多項(xiàng)發(fā)明產(chǎn)權(quán)，不存在任何依賴性技術(shù)。
②智能參數(shù)設(shè)置：無(wú)需調(diào)整參數(shù)，無(wú)需繁瑣對(duì)標(biāo)，掃描檢測(cè)卡上二維碼即可完成所有設(shè)置。
③告別繁瑣實(shí)驗(yàn)操作：只需移液器加入，插入卡槽，點(diǎn)開(kāi)操作軟件，即可一鍵式進(jìn)行測(cè)量。
④零污染檢測(cè)：插入式可拋棄型檢測(cè)卡，一卡一樣，完全杜絕樣品污染問(wèn)題
⑤便民檢測(cè)環(huán)境：無(wú)需特殊電源，特殊環(huán)境，普通實(shí)驗(yàn)室條件，連接電腦，直接安裝操作軟件即可進(jìn)行測(cè)試。
⑥儀器易保養(yǎng)：插入式檢測(cè)，樣品僅存在于檢測(cè)卡，不進(jìn)入儀器內(nèi)部，測(cè)量完成后，無(wú)需進(jìn)行清洗保養(yǎng)。
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