SDCOM的特點

• 能夠測量小至1mm的晶體到或更大的樣品

• 各種樣品架及輸送夾具，用于線鋸、拋光等

• 側晶方向標記選項

• 無水冷卻

• **精度：0.01°(視晶體質量而定)

• 確定單晶的完全晶格取向

• 使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測量

• 氣冷式X射線管，無需水冷

• 適合于研究和生產質量控制

• 手動操作(沒有自動化選項)

  
  

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SDCOM的特點

• 能夠測量小至1mm的晶體到或更大的樣品

• 各種樣品架及輸送夾具，用于線鋸、拋光等

• 側晶方向標記選項

• 無水冷卻

• **精度：0.01°(視晶體質量而定)

• 確定單晶的完全晶格取向

• 使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測量

• 氣冷式X射線管，無需水冷

• 適合于研究和生產質量控制

• 手動操作(沒有自動化選項)

  
  

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