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微電流IV曲線掃描數字源表_國產源表
普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態范圍、率先國產化的源表系列產品，集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體。可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載。其高性能架構還允許
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2025-08-27 |
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半導體功率循環測試數據采集卡
概述： A400數據采集卡，是一款普賽斯自主設計開發的插卡式，支持可變速率采樣和大容量數據存儲的高精度數據采集卡。 采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可達16bits，z高支持1MS/s采樣率。單采集卡支持4通道，且通道間
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2025-08-27 |
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PIV特性曲線掃描測試恒流脈沖源us級脈寬
LIV71010恒流脈沖源適用于可見光、VCSEL陣列等大功率激光器的測試，支持脈沖、直流PIV特性曲線掃描測試和特性參數計算，支持光譜特性測試（需要外接光譜儀）。儀表集脈沖電流源、電流表、電壓表和光功率計等功能于一
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2025-08-27 |
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半導體電學特性測試系統CV+IV測試儀
概述： SPA-6100半導體參數分析儀是武漢普賽斯自主研發、精益打造的一款半導體電學特性測試系統，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高
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2025-08-27 |
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功率半導體器件CV測試系統
功率器件CV測試系統方案 普賽斯半導體功率器件C-V測試系統主要由源表、LCR表、矩陣開關和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)負責提供可調直流電壓偏置，通過矩陣開關加載在待測件上。
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2025-08-27 |
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igbt測試設備igbt測試儀
普賽斯igbt測試設備igbt測試儀,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量IGBT功率半導體器件的靜態參數,具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結電容,如輸入電容
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2025-08-27 |
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國產精密電流源+源表廠家
普賽斯數字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高
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2025-08-27 |
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半導體性能測試數字源表SMU源表
半導體性能測試數字源表SMU源表認準普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數字源表，相比于傳統S系列源表，準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導體行業提供更加精準、穩定的測
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2025-08-27 |
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